nauer–Emmett–Teller) محاسبه گریدند. همچنین توزیع اندازه تخلخل نیز بـا اسـتفاده ازشاخه جذب ایزوترم ها و با استفاده از روش BJH (Barrett–Joyner–Halend) بدست آمد. بـرای بررسـ ی مورفولـوژ ی سـطحالکتروکاتالیست های سنتزی، م یکروسکوپ الکترون ی روبشی Hitachi S-4800 به کار برده شد. آماده ساز ی نمونه ها جهت آنالیز TEM توسط سونیکیشن و بمدت 2-5 دق یقه در اتانول و سپس رسوب بر روی grid مسی صورت گرفـت . مـدل دسـتگاه مـورداستفاده از نوع JEOL JEM-2000EX2 و KV 200 می باشد.
برای تعیین عملکرد و ارزیابی الکترودهای ساخته شده، از تک سل واحد پیل سوختی مرکز مهندسی اصـفهان بـا سـطح الکتـرود2cm5، با مجرای جریان مارپیچی شکل، همراه با صفحات گرمکن در دو طرف و مجهز به صفحات مسی آب کاری شده با طلااستفاده گردید. این تک سل، در دستگاه تست پیل سوختی (ساخت مرکز مهندسی اصفهان) مورد آزمایش قرار گرفت.
در این آزمایش از سیلندرهای فشرده گازهای هیدروژن (99/99%) در آند و اکـسیژن (99/99%) در کاتـد بـه ترتیـب بـه عنـوانسوخت و اکسید کننده استفاده شد . از رسم منحنی ولتاژ برحسب دانسیته جریـان (منحنـی پلاریزاسـیون)، عملکـردMEA هـایساخته شده در دمای عملیاتی 70 درجه سانتیگراد و فشار 3 اتمسفر بررسی گردید.
نمونه های تهیه شده بترتیب با علائم اختصاری Vulcan-nPt وMeso-X-nPt کدگذاری شدند که در اینجاn نمـاینگر درصـدپلاتین بکار رفته و X نشان دهنده جزء عامل دار کننده است.
3- نتایج و بحث
3- 1- بررسی های ساختاری
در شکل (1) الگوی SAXRD نمونه های کربن ی با زیر پایه های مختلف بارگـذاری شـده بـا 20 درصـد وزنـی پلاتـین مـشاهدهمی شود. همانطور که در بخش قبلی نیز اشاره شد، پ یک (100) در تمام ی نمونه ها در حوالی زاویه 1 د یده می شـود . ا یـن پ یـکهـامربوط به الگوی کربن مزوپور با ساختار هگز اگونالی می باشد [4-5].
آثار ضعیفی از پراش دیگر صفحات این الگو (200) در نمونـهCMK3-1NiO-20Pt مـشاهده مـی شـود، در حالیکـه در نمونـهCMK3-CNT-20Pt تنها آثار ضعیفی از الگوی (100) در نمونه دیده می شود. شیفت جزئی پیک (100) به زوایای بالاتر در اثـرکرنش شبکهای در اثر عاملدار شدن ، نشان از بی نظم شدن مزو ساختار ایجادی دارد. از آنجا یی که شدت و وضوح پیـک هـا درنمونه ها به درجه نظم تخلخلهای آرا یش یافته در ساختار وابسته م یباشـد و از اخـتلاف دانـسیته ی الکتـرون بـین د یـواره هـا وتخلخل ها در ساختار ناشی م ی شود، کاهش شدت پیک در اثر رشد نانو لوله ها در درون دیواره هـا و از دسـت رفـتن نظـم رخ دادهاست. در شکل های (2) نیز تصاویر SEM نمونه ها نشان داده شده است.

شکل 1- SAXRD نمونه های کربنی با زیر پایه های مختلف بارگذاری شده با 20 درصد وزنی پلاتین
308800-1438758

در این سایت فقط تکه هایی از این مطلب با شماره بندی انتهای صفحه درج می شود که ممکن است هنگام انتقال از فایل ورد به داخل سایت کلمات به هم بریزد یا شکل ها درج نشود

شما می توانید تکه های دیگری از این مطلب را با جستجو در همین سایت بخوانید

ولی برای دانلود فایل اصلی با فرمت ورد حاوی تمامی قسمت ها با منابع کامل

اینجا کلیک کنید

  • 2